이 논문은 자동차 SRS(에어백 제어) 모듈의 메모리 칩이 사고로 심각하게 손상된 경우에도 EDR(사고기록장치) 데이터를 복구할 수 있는 저비용 방법을 제시한다. 연구진은 프로세서와 플래시 EEPROM 칩이 과전압과 과전류로 인해 표면에 구멍이 생길 정도로 손상된 실제 SRS 모듈에서 100% 성공률로 모든 데이터를 복구했다. 손상 부위는 국소 온도가 섭씨 3000도를 넘어 금속 배선이 증발하고 본딩 와이어의 금이 녹아 빈 공간을 채울 정도였지만, 불과 수백 마이크로미터 떨어진 EEPROM 배열은 비트 손실 없이 온전했다. 복구한 데이터는 상용 크래시스캔 장비로 완전한 EDR 리포트 추출과 사고 재구성에 활용됐으며, 자동차뿐 아니라 의료·항공·우주 산업의 손상 칩 데이터 복구에도 응용될 수 있다.
- •과전압·과전류로 손상된 SRS 모듈에서 100% 성공률로 EDR 데이터 전량 복구
- •손상부 국소 온도가 섭씨 3000도를 넘었으나 인접 EEPROM 배열은 비트 손실 없음
- •복구 데이터로 상용 크래시스캔 장비를 이용해 완전한 EDR 리포트 및 사고 재구성 수행
- •자동차 외 의료·항공·우주 산업의 손상 칩 데이터 복구에도 응용 가능
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World-First SEM-based Recovery of Crash EDR Data from the EEPROM of a Severely Damaged SRS Module Using CrashScan
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arXiv:2608.10152v1 Announce Type: new Abstract: This paper introduces fully working and affordable approach to data recovery from automotive SRS (airbag control) module after permanent failure of its data storage memory chip. All essential information was successfully extracted with 100% success rate from a real SRS module after severe accident which resulted in both its Processor and Flash EEPROM chip electrically damaged with visible holes in their packages. Further investigation revealed tha
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